产品介绍

X射线荧光光谱仪

针对DX320L在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款DX320L。应用新一代的高压电源和X光管，提高产的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率； 集合了多年ROHS检测经验，应用新一代，分辨率zui高的电制冷SDD半导体探测器,对六种有害元素尤其是Br等元素进行了优化,提高仪器测试的稳定性和精度性。

X射线荧光光谱仪

性能特点

工作曲线：提供开放性工作曲线功能，根据企业物料情况量身定做的有害元素检测和控制方案；

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用实现了全自动一键测试。

移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点

高分辨率探测器：采用，分辨率zui高的电制冷SDD半导体探测器，更有利于仪          器的稳定性和精度性

新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达150W的功率实现更高的测试效率安全性能：全光路射线防护系统配合经典的三重安全防护设计,同时采用软、硬件双重安全连锁,确保辐射安全性能；

主要技术参数：
型号：DX-320L
测试对像：粉未、固体、液体
元素分析范围：钠（Na）—铀（U）
含量分析范围：1PPM—99.99%
测量时间：30—200秒
探测器：电制冷SDD半导体探测器
仪器分辨率：127eV±5

zui低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm

Sb/Se/Ba/Pb/As/Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm（八大重金属）
多道分析器：2048道
输入电压：AC 220V±10%，50HZ（建议配稳压电源）
额定功率：300W（带电脑）
环境湿度：30%--80%
外型尺寸：660mm×480mm×330mm
测量仓：440mm×350mm×150mm
仪器重量：62公斤

标准配置:
高低压电源（美国Spellman进口）
大功率X光管（英国Oxford牛津进口）
电制冷半导体探测器（美国AMPTEK进口）
多道分析器（美国进口）
控制电路
高压单元
移动样品台
高清晰CCD
准直器：含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个
滤光片：5组滤光片
计算机：品牌商务电脑（内存2G、硬盘200G），17寸液晶显示器
打印机：彩色喷墨打印机

应用范围：

RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测

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